¹«¼±±â¼ú
ÈÇÕ¹° ¹ÝµµÃ¼ Àç·á°¡ ÁÖµµÇÏ´Â ¹«¼±±â¼ú ½ÃÀåÀÇ ÁÖ¿ä ǰ¸ñÀº Àü·ÂÁõÆø Æ®·£Áö½ºÅÍ(ÀÌÁ¾Á¢ÇÕ ¾ç±ØÆ®·£Áö½ºÅÍ,heterojunction bipolar transistors)¿Í °í¼Ó½ºÀ§Ä¡(°íÀüÀÚÀ̵¿ Æ®·£Áö½ºÅÍ)ÀÔ´Ï´Ù. ¹«¼±Åë½Å ¼ö¿ä°¡ °è¼ÓÀûÀ¸·Î Áõ°¡ÇÔ¿¡ µû¶ó ÀÌ ½ÃÀåµµ Áö¼ÓÀûÀ¸·Î ¼ºÀåÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
À¯µµ°áÇÕ ÇöóÁ(ICP) ¹× ÇöóÁ °È ÈÇÐÁõÂø(PECVD) ±â¼úÀ» »ç¿ëÇÏ¸ç ¹«¼±±â¼ú½ÃÀå¿¡ »ç¿ëµÇ´Â ÈÇÕ¹° ¹ÝµµÃ¼ ¸ðµç Àç·á¿¡ ´ëÇÑ etch ¹×deposition ±â¼úÀ» º¸À¯Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
ÀÌ ½ÃÀåÀÇ ¸®´õ·Î¼ Plasma-ThermÀº R&D¿¡¼ºÎÅÍ ¾ç»ê °øÁ¤±îÁö ¼Ö·ç¼ÇÀ» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. HBT ¹×HEMT »ý»ê °øÁ¤ Á¦Ç°±ºÁß¿¡ gate¸¦ °³¹æÇÒ ¶§ ¼Õ»óÀ» ÁÙÀ̰í Backside viaÀÇ ³ôÀº etching rate¸¦ ³ªÅ¸³»¸çsilicon nitride deposition¿¡¼´Â ½ºÆ®·¹½º¸¦ °¨¼Ò½ÃÄ×½À´Ï´Ù.
ÇöóÁ½æ ICP °¡¿°øÁ¤ ¸ðµâ°ú ÅëÇÕ endpoint systemÀº »ý»êȯ°æ¿¡ ÀÖ¾î¼ ÀçÇö¼ºÀ» ºÎ¿©ÇÕ´Ï´Ù. EndpointWorks¢â·Î ´ëÇ¥µÇ´Âendpoint ½Ã½ºÅÛÀº laser °£¼·°è(interferometry), optical emission spectroscopy(OES) ¹× ±âŸ ÀԷ¹æ½Ä »ç¿ëÀÌ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.
ÀÏ¹Ý ¾îÇø®ÄÉÀ̼Ç
-
Etching
- GaAs via ? ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î È¿À²À» ³ôÀÓ
- InP via ? ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î È¿À²À» ³ôÀÓ
- GaAs - mesa etching±â¹Ý
- SiNx low - Àú¼Õ»ógate etching
-
Deposition- PECVD of SiNxÀÇ ½ºÆ®·¹½º¸¦ ³·Ãß°í ¼Õ»óÀ» ÁÙÀÓ
- Capacitors
- ºÀÇÕ (Encapsulation)
- Passivation
- Ãþ°£ À¯Àüü(Interlayer dielectric)
Àú¼Õ»ó SiNx gate openingÀº ¼Õ»óÀÌ °¡±â ½¬¿îGaAs and InGaAs°ú °°Àº ÈÇÕ¹°¹ÝµµÃ¼¿¡ ÀûÇÕÇÑ ÀúÀü·Â°øÁ¤À» ÁøÇàÇÕ´Ï´Ù.
VERSALINE¢ç Àº ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î backside via etch rate¸¦ ºü¸£°Ô ÁøÇàÇÏ°í ºñ±Ý¼Ó »çÆÄÀ̾î carrier·Î Àü¾ÐÀ» À¯ÁöÇÔÀ¸·Î½á edge ¼Ò¸ð(edge-exclusion)¸¦ ÃÖ¼ÒÈÇÏ¿© ¿È¿À²À» ³ô¿©ÁÝ´Ï´Ù.
Plasma-ThermÀÇPECVD Çï·ý¿ëÇØ±â¼úÀº ³·Àº Á֯ļö¸¦ »ç¿ëÇÏ¿© silicon nitride filmÀÇ ½ºÆ®·¹½º¸¦ Á¦¾îÇÏ°í µð¹ÙÀ̽º¸¦ ¼Õ»ó ¾øÀÌ º¸È£ÇÕ´Ï´Ù.
Á¦Ç°
|