English Korean Chinese
 

½æ³×ÀÏ À̹ÌÁö¿¡ ¸¶¿ì½º Ä¿¼­¸¦ ´ë½Ã¸é Å« À̹ÌÁö·Î º¸½Ç ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù
¹«¼± ¾îÇø®ÄÉÀ̼ÇÀ» À§ÇÑ Á¦Ç° ¼Ö·ç¼Ç1
 
 

¹«¼±±â¼ú

È­ÇÕ¹° ¹ÝµµÃ¼ Àç·á°¡ ÁÖµµÇÏ´Â ¹«¼±±â¼ú ½ÃÀåÀÇ ÁÖ¿ä ǰ¸ñÀº Àü·ÂÁõÆø Æ®·£Áö½ºÅÍ(ÀÌÁ¾Á¢ÇÕ ¾ç±ØÆ®·£Áö½ºÅÍ,heterojunction bipolar transistors)¿Í °í¼Ó½ºÀ§Ä¡(°íÀüÀÚÀ̵¿ Æ®·£Áö½ºÅÍ)ÀÔ´Ï´Ù. ¹«¼±Åë½Å ¼ö¿ä°¡ °è¼ÓÀûÀ¸·Î Áõ°¡ÇÔ¿¡ µû¶ó ÀÌ ½ÃÀåµµ Áö¼ÓÀûÀ¸·Î ¼ºÀåÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.

À¯µµ°áÇÕ ÇöóÁ(ICP) ¹× ÇöóÁ °­È­ È­ÇÐÁõÂø(PECVD) ±â¼úÀ» »ç¿ëÇÏ¸ç ¹«¼±±â¼ú½ÃÀå¿¡ »ç¿ëµÇ´Â È­ÇÕ¹° ¹ÝµµÃ¼ ¸ðµç Àç·á¿¡ ´ëÇÑ etch ¹×deposition ±â¼úÀ» º¸À¯Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÀÌ ½ÃÀåÀÇ ¸®´õ·Î¼­ Plasma-ThermÀº R&D¿¡¼­ºÎÅÍ ¾ç»ê °øÁ¤±îÁö ¼Ö·ç¼ÇÀ» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. HBT ¹×HEMT »ý»ê °øÁ¤ Á¦Ç°±ºÁß¿¡ gate¸¦ °³¹æÇÒ ¶§ ¼Õ»óÀ» ÁÙÀ̰í Backside viaÀÇ ³ôÀº etching rate¸¦ ³ªÅ¸³»¸çsilicon nitride deposition¿¡¼­´Â ½ºÆ®·¹½º¸¦ °¨¼Ò½ÃÄ×½À´Ï´Ù.

ÇöóÁ½æ ICP °¡¿­°øÁ¤ ¸ðµâ°ú ÅëÇÕ endpoint systemÀº »ý»êȯ°æ¿¡ À־ ÀçÇö¼ºÀ» ºÎ¿©ÇÕ´Ï´Ù. EndpointWorks¢â·Î ´ëÇ¥µÇ´Âendpoint ½Ã½ºÅÛÀº laser °£¼·°è(interferometry), optical emission spectroscopy(OES) ¹× ±âŸ ÀԷ¹æ½Ä »ç¿ëÀÌ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.

ÀÏ¹Ý ¾îÇø®ÄÉÀ̼Ç

  • Etching
          - GaAs via ? ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î È¿À²À» ³ôÀÓ
          - InP via ? ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î È¿À²À» ³ôÀÓ
          - GaAs - mesa etching±â¹Ý
          - SiNx low - Àú¼Õ»ógate etching

  • Deposition- PECVD of SiNxÀÇ ½ºÆ®·¹½º¸¦ ³·Ãß°í ¼Õ»óÀ» ÁÙÀÓ
          - Capacitors
          - ºÀÇÕ (Encapsulation)
          - Passivation
          - Ãþ°£ À¯Àüü(Interlayer dielectric)

Àú¼Õ»ó SiNx gate openingÀº ¼Õ»óÀÌ °¡±â ½¬¿îGaAs and InGaAs°ú °°Àº È­ÇÕ¹°¹ÝµµÃ¼¿¡ ÀûÇÕÇÑ ÀúÀü·Â°øÁ¤À» ÁøÇàÇÕ´Ï´Ù.

VERSALINE¢ç Àº ÇÁ·ÎÆÄÀÏ Á¦¾î·Î backside via etch rate¸¦ ºü¸£°Ô ÁøÇàÇÏ°í ºñ±Ý¼Ó »çÆÄÀ̾î carrier·Î Àü¾ÐÀ» À¯ÁöÇÔÀ¸·Î½á edge ¼Ò¸ð(edge-exclusion)¸¦ ÃÖ¼ÒÈ­ÇÏ¿© ¿­È¿À²À» ³ô¿©ÁÝ´Ï´Ù.

Plasma-ThermÀÇPECVD Çï·ý¿ëÇØ±â¼úÀº ³·Àº Á֯ļö¸¦ »ç¿ëÇÏ¿© silicon nitride filmÀÇ ½ºÆ®·¹½º¸¦ Á¦¾îÇÏ°í µð¹ÙÀ̽º¸¦ ¼Õ»ó ¾øÀÌ º¸È£ÇÕ´Ï´Ù.

Á¦Ç°

 

»ó¼¼ À̹ÌÁö

 
 

¹®ÀÇ»çÇ×À̳ª Á¤º¸°¡ ÇÊ¿äÇϽøé email: information@plasmatherm.com À̳ª ÀüÈ­+1.727.577.4999·Î ¿¬¶ôÁֽñ⠹ٶø´Ï´Ù.